/銀漿爬坡檢測儀/芯片銀漿厚度測量儀/銀漿Silver Paste高度測試儀/銀漿爬坡45度測量顯微鏡/銀漿高度測量系統/銀漿爬坡檢測儀/斜視測量儀
全新二代銀漿（爬膠）高度測量儀MT-F2000集多項**于一身，從外觀到性能都緊跟國際**設計風向，致力于拓展工業領域新格局。秉承不斷探索、不斷超越的品牌設計理念，為客戶提供完善的工業檢測解決方案。
銀漿（爬膠）高度45度檢測系統是半導體銀漿silver paste高度專業檢測儀器，也稱之為銀漿厚度檢測儀；在半導體芯片加工中，需要對芯片die中的晶圓wafe進行銀漿固定，這就需要對固定工藝進行檢測，已判斷銀漿的高度或厚度是否達到指定的技術指標；此系列檢測儀是此工藝專業檢測儀器，通過顯微鏡非接觸圖像識別的方式進行觀察及量測，配專業相機、軟件及固定治具；快速有效的檢測此工藝技術指標。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀主要用于半導體、led 封裝行業，上芯后銀漿爬芯的高度，銀漿溢出（Fillet Height）以及占比的測量。通過軟件軟體功能提供客制化相關檢測項目、檢測數據存儲、檢索和管理。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀，采用歐米特上等光學系統，具有低畸變，高分辨率，大景深，市場寬大且平坦，齊焦性好等特點，設計新穎，操作簡便。可手動切換觀察角度，觀察工作距離高達82mm，方便取放產品。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀，全程齊焦，圖像清晰，40-270倍連續變倍。
MT-F2000系列爬膠高度測量儀擁有人性化的操作體驗，用戶在調焦和變倍過程中，可將手肘完全放在工作臺上，優化操作手感。
型號
OMT-F2000配置
光學系統
2D齊焦齊心定格定倍光學系統
光學放大倍數
0.7倍-4.5倍
數碼放大倍數
40倍-270倍（23.8寸顯示器）
高清
圖像處理系統
1200萬1/2寸彩色索尼工業芯片，高靈敏度、低噪聲SENSOR，性能強大，預覽流暢；
像元尺寸：3.75um*3.75um/數據位數：12bit 逐行曝光
分辨率：4000*3000
輸出接口
USB3.0數據輸出接口
拍照
拍照（鼠標拍照存儲在U盤）
測量
全新測量系統
觀察角度
45度
光源
OMT-60X長壽命可調亮度LED光源
夾式可調LED冷光源，單顆射燈
支架
8英寸載物臺，平臺面積 300*270mm，移動行程：200mmX200mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；
8英寸平臺，平臺面積 525*330mm，移動行程：210mmX210mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；含快速移動裝置（型號：MT-F2000-PRO）
電腦
主流品牌臺式電腦主機
顯示器
23.8寸高清HDMI液晶顯示器分辨率1920*1080
標尺
高精度型測微尺，格值0.01mm
蘇公網安備 32059002001842號
